膜厚的不均匀性:无论监控仪精度怎样，它也只能控制真空室里单点位置的膜厚，一般来讲是工件架的中间位置。如果此位置的膜厚不是绝对均匀的，那么远离中

心位置的基片就无法得到均

匀的厚度。虽然屏蔽罩能消除表现为长期的不均匀性，但有些膜厚度的变化是由燕发源的不稳定或膜材的不同表现而引起的，所以几乎是不可能消除的，但对真空室的结构和嘉发源的恰当选泽可以使这些影响最小化。

在过去几年中，越来越多的用户要求镀膜系统制造厂家提供高性能的小规格、简便型光学镀膜系统，同时，用户对性能的要求不仅没有降低，反而有所提高，特别是在薄膜密度和保证吸水后光谱变化最小化等方面。现在，系统的平均尺寸规格已经在降低，而应用小规格设备进行光学镀膜的生产也已经转变成为纯技术问题。因此，选用现代化光学镀腹系统的关键取决于对以下因素的认真考虑:即，对镀膜产品的预期性能，基片的尺寸大小和物理特性以及保证高度—致性工艺所必需的所有技术因素。